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COMPANY PROFILE

鉴微半导体是一家专注于化合物半导体检量测的高科技企业,围绕 SiC / GaN 等关键材料, 提供覆盖衬底、外延到器件加工全流程的检测与计量解决方案。公司以自研光学平台、 图像算法与数据分析能力为核心,为国内外晶圆制造与功率器件客户构建高可靠的质量基础设施。

SiC / GaN 晶圆检测 设备 · 算法 · 数据 面向全球的质量基础设施
MicroInspect semiconductor equipment
INSPECTION · METROLOGY · QUALITY
OUR TEAM

我们的团队/ Our Team

团队核心成员来自知名半导体设备公司与高校科研机构, 覆盖光学设计、机械工程、算法与工艺应用等领域。 工程师长期扎根产线一线,在真实工艺场景中打磨产品与解决方案。

TECHNOLOGY & PRODUCTS

技术与产品/ Technology & Products

以自研光学检测平台为基础,叠加深度学习缺陷识别、计量算法与统计分析能力, 打造 “设备 + 算法 + 数据平台” 一体化解决方案, 支持多尺寸晶圆、多工艺节点与多种缺陷类型的高效检测。

CUSTOMERS & PARTNERS

客户与合作/ Customers & Partners

面向功率器件、车规电子、新能源、视觉 AI 等应用领域, 与晶圆制造厂、外延厂以及科研院所保持紧密合作, 通过联合开发与现场验证,持续丰富产品能力与应用场景。

OUR COMMITMENT

我们的承诺/ Our Commitment

坚持以 质量与可靠性 为第一优先级, 用可度量的指标交付检测能力;坚持开放、透明的合作方式, 为客户提供本地工程支持、远程运维与持续升级服务, 共同构建第三代半导体产业的质量标杆。

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膜厚测量设备 · Hawking 系列

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