检量测设备
鉴微半导体提供半导体检量测解决方案，包括缺陷检测、膜厚测量等。
产品中心
过程检
MSP系列，检测表面宏观缺陷
终检
MI系列，检测衬底外延
膜厚量测
Hawking系列，膜厚测量
下载资料
各类产品的介绍资料、说明书。
Why Choose Us
定制化的方案
根据不同使用场景, 定制化开发方案
高精尖的技术
深耕半导体检量测领域
全方面的服务
从设计安装到开发调试，从售前到售后，全方面的服务
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