检量测设备 鉴微半导体提供半导体检量测解决方案,包括缺陷检测、膜厚测量等。 Inspection & Metrology 产品中心 过程检 MSP系列,检测表面宏观缺陷 终检 MI系列,检测衬底外延 膜厚量测 Hawking系列,膜厚测量 下载资料 各类产品的介绍资料、说明书。 Why Choose Us 定制化的方案 根据不同使用场景, 定制化开发方案 高精尖的技术 深耕半导体检量测领域 全方面的服务 从设计安装到开发调试,从售前到售后,全方面的服务 Get a professional inspection and metrology today! 联系我们