发展历程
自 2023 年在南京成立以来，鉴微半导体始终专注于化合物半导体检量测领域， 围绕 SiC / GaN 等关键材料，构建面向晶圆制造的检测与计量平台。 在短时间内完成从核心算法、自研装备到产线级部署的快速进阶， 正逐步成长为具有国际视野的第三代半导体质量基础设施提供商。
创立北京 · 聚焦化合物半导体检量测
鉴微半导体设备（北京）有限公司正式成立，明确“化合物半导体晶圆检测与计量专家” 的战略定位， 快速搭建核心团队，吸纳来自科研院所与半导体设备企业的精英人才，着力突破 SiC / GaN 等材料的测量与检测瓶颈， 同时启动首代 SiC / GaN 晶圆检测平台的技术预研。
从实验室样机到产线级平台
围绕 SiC 衬底宏观缺陷检测、外延片质量评估等场景， 打造可扩展的检量测软硬件一体平台， 在多家合作客户现场完成工程验证， 形成覆盖衬底、外延到器件加工环节的一站式检测解决方案雏形。
扎根南京，走向批量部署 · 服务更多产线
面向功率器件、车规级应用、视觉化 AI 等需求场景， 不断打磨缺陷识别与统计分析能力， 推动系统在更多晶圆厂和外延厂完成部署， 以良率提升与工艺稳定性为核心指标，持续提升设备稳定性与工艺数据分析能力， 助力客户在生产线上实现更高良率及更强过程可控性。
面向全球第三代半导体生态
以检量测数据为纽带，持续拓展 SiC / GaN 相关产品线， 与产业链伙伴共同打造开放的质量与良率平台， 在更多海外重点区域布局服务与应用支持团队， 逐步成长为具有国际影响力的第三代半导体检测与计量品牌。
关注公众号
Email：business@microinspect.tech
Add: 北京市海淀区中关村东路8号东升大厦C座223室
Copyright © 2025 uInspect 鉴微半导体 | All Rights Reserved