鉴微半导体

鉴微半导体专注提供半导体检量测解决方案，包括半导体晶圆的缺陷检测、膜厚测量等。

检量测设备

产品中心

过程检

MSP系列，检测表面宏观缺陷

终检

MI系列，检测衬底外延

膜厚量测

Hawking系列，膜厚测量

下载资料

各类产品的介绍资料、说明书。

Why Choose Us

定制化的方案

根据不同使用场景, 定制化开发方案

高精尖的技术

深耕半导体检量测领域

全方面的服务

从设计安装到开发调试，从售前到售后，全方面的服务

Get a professional inspection and metrology today!